固体表面キャラクタリゼーションの実際ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

田中庸裕/山下弘巳・編

固体表面キャラクタリゼーションの実際ナノ材料に利用するスペクトロスコピー

発行
2005/02/10
サイズ
A5判
ページ数
206
ISBN
978-4-06-154325-6
本体
3,500円(税別)
在庫
在庫あり

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3,500円(税別)

内容紹介

何が測定でき、何がわかるか? この疑問に答えるナノテク研究者必携のコンパクトな入門書!ナノ材料の表面構造と物性を観察・評価するために、不可欠なスペクトロスコピーの測定技術と解釈方法をそれぞれの専門家がやさしく解説。光触媒、カーボンナノチューブ、燃料電池材料などの先端材料のキャラクタリゼーションが一目でわかる。

目次

1章 固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
2章 X線一般・XRD(X線回折)
3章 XPS(X線光電子分光)
4章 XAFS(X線吸収微細構造)
5章 UV/VIS(紫外/可視)・PLS(光ルミネセンス)
6章 IR(赤外)・Raman(ラマン)分光法
7章 ESR(電子スピン共鳴)
8章 NMR(核磁気共鳴)
9章 TEM(透過電子顕微鏡)・SEM(走査電子顕微鏡)
10章 STM(走査トンネル顕微鏡)・AFM(原子間力顕微鏡)
11章 昇温スペクトル
12章 MS(質量分析)・SIMS(二次イオン金属分析)
13章 CV(サイクリックボルタンメトリー)
14章 「目で学ぶ」ケーススタディー