粉末X線回折による材料分析

山中高光・著

粉末X線回折による材料分析

発行
1993/06/01
サイズ
A5判
ページ数
206
ISBN
978-4-06-153352-3
本体
5,728円(税別)
在庫
在庫無し

内容紹介

すべての材料科学・物質科学に必須の粉末回折法を充分に活用するための必携書。大きく進歩した測定装置と、結晶構造決定の手順や諸問題を詳述。第一人者による粉末回折測定の実用書。

目次

1 粉末回折に必要な結晶学
  1.単位胞、空間格子(結晶系とブラヴェ格子)
  2.結晶のもつ対称性
  3.点群と空間群
  4.実格子と逆格子

2 X線についての基礎知識
  1.X線の発生原理
  2.X線による回折、散乱、吸収

3 粉末X線回折の理論
  1.ブラッグ反射と回折線の関係
  2.構造因子と回折強度
  3.消滅則と空間群の決定
  4.フーリエ変換による電子密度分布

4 粉末X線回折計による測定装置
  1.X線発生装置(X線封入管、回転対陰極)
  2.粉末回折計の光学系

5 粉末回折実験の実際
  1.試料の調整
  2.X線の選択
  3.測定条件の設定

6 粉末回折計以外の粉末回折方法
  1.粉末回折写真法による測定
  2.粉末回折実験に用いられるいろいろな検出器
  3.エネルギー分散粉末回折法

7 粉末回折法を利用した解析
  1.格子定数の測定
  2.定性分析と定量分析
  3.結晶子(粒度)解析
  4.形状と組織解析
  5.結晶子のひずみと応力測定
  6.有機化合物の粉末回折

8 粉末結晶構造解析
  1.粉末回折線プロファイル
  2.リートフェルト法粉末構造解析
  3.ab initio法
  4.粉末回折法を用いた電子密度解析
  5.マキシマムエントロピー法による構造解析
  6.異常分散を利用した粉末構造解析

9 特殊条件下での粉末X線回折
  1.高温粉末回折実験
  2.低温粉末回折実験
  3.高圧粉末回折実験
  4.時間分割粉末回折実験

10 粉末試料同定・検索法
  1.JCPDSデータベース
  2.同定法
  3.計算機による検索法

11 薄膜X線回折法
  1.薄膜X線回折実験の目的
  2.薄膜X線回折法
  3.平行光学系

12 非晶質試料X線回折実験
  1.動径分布関数
  2.非晶質散乱実験

付録