XAFSの基礎と応用

日本XAFS研究会・編

XAFSの基礎と応用

発行
2016/07/21
サイズ
A5
ページ数
351
ISBN
978-4-06-153295-3
本体
4600円(税別)
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内容紹介

XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した 測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、 その場測定、界面や生体試料を対象とした測定などを詳細に解説。

目次

第1章 序論
1.1 物質と電磁波の相互作用
1.2 X線吸収分光の歴史

第2章 XAFSの理論
2.1 一回散乱EXAFS
2.2 多重散乱理論
2.3 XANESの電子状態理論
2.4 EXAFSにおける温度因子
2.5 おわりに

第3章 XAFSの解析
3.1 EXAFSの解析
3.2 REXを用いたXAFS解析
3.3 Athnena-Artemisを用いたXAFS解析
3.4 XANES
3.4.1 硬XANES
3.4.2 軟XANES
3.4.3 おわりに

第4章 XAFS実験
4.1 放射光光源
4.2 ビームライン光学系
4.3 基盤技術
4.3.1 透過法
4.3.2 蛍光収量法
4.3.3 電子収量法
4.4 軟X線技術
4.5 時間分解
4.5.1 QXAFS法
4.5.2 DXAFS法
4.5.3 ポンプ&プローブ法
4.6 空間分解
4.6.1 微小ビームによる空間分解測定
4.6.2 ナノビーム集光光学系
4.6.3 非走査型イメージング
4.6.4 深さ分解XAFS
4.6.5 ラミノグラフィXAFS
4.7 発展的技術
4.7.1 全反射XAFS
4.7.2 高圧下のXAFS測定
4.7.3 界面
4.7.4 生体試料
4.7.5 電気化学的技術
4.7.6 in situ測定

第5章 関連手法
5.1 軟X線磁気円二色性,線二色性
5.2 硬X線磁気円二色性
5.3 2光子過程を利用したXAFS測定
5.4 X線異常散乱
5.5 X線定在波法
5.6 Core-hole clock分光法
5.7 電子エネルギー損失分光法